泰坦星智能（宁波）科技有限公司

项目致力于开发基于AI图像识别的高精度晶圆级缺陷检测设备，聚焦半导体制造过程中的质量管控。项目融合多模态光学成像与深度学习算法，具备明暗场、红外、3D测量等功能，检测准确率超99%。团队由行业资深专家与学术领军人物组成，目前已完成软硬件系统集成并进入客户演示阶段。目标市场覆盖LED、第三代半导体等细分领域，计划三年内实现盈利，推动国产高端检测设备自主化。